HORIBA AFM-ラマン装置

※AFM : Atomic Force Microscope(原子間力顕微鏡)
※TERS : Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (チップ増強ラマン分光)
※SNOM : Scanning Near-field Optical Microscope (走査型近接場顕微鏡)

AFM測定とラマン分光測定を同時に高速マッピング可能なナノイメージング分光装置です。
ソフトウェア制御による、照射レーザ光のアライメント機構、AFMとラマン分光装置との統合ソフトウェアを搭載することで、
TERSやSNOM測定装置としても容易な操作性、高速データ処理、高い信頼性を実現しました。

【特徴】
・ラマン光に干渉しないIR AFMダイオード
・ヘッドの移動を必要としないチップ交換
・TERS用高NA対物レンズ（0.7A）
・AFM/ラマン同一領域測定
・TERSで回折限界を超える測定空間分解能（数十nm～）によるラマン測定
・XploRA PLUS、LabRAM HR Evolutionに統合可能